标准号：GB/T 34002-2017
标准名称：微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
适用范围：本标准规定了透射电镜(TEM)在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构，例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或X射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。本标准适用于记录在照相胶片上或成像板上或数字相机内置传感器采集的 TEM图像的放大倍率。本标准也可用于校准标尺，但不适用于专用的临界尺寸测长透射电镜(CD-TEM)和扫描透射电镜(STEM)。
英文名称：Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
标准状态：现行
发布日期：2017-07-12
实施日期：2018-06-01
出版语种：中文简体
标准ICS号：71.040.40
中标分类号：G04
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
提出部门：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
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