旗下实验室荣誉资质
CMA资质认定证书
CNAS认可证书
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国家 标准 |
| GB/T 4937.42-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分：温湿度贮存 | 现行 |
| 国际标准分类号（ICS） 31.080.01 中国标准分类号（CCS） L40 | 采 |
英文标题
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 42:Temperature and humidity storage
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
采标关系
等同 IEC 60749-42:2014
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国家 标准 |
| GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST） | 现行 |
| 国际标准分类号（ICS） 31.080.01 中国标准分类号（CCS） L40 | 采 |
英文标题
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
采标关系
等同 IEC 60749-4:2002
