GB/T7092-1993标准检测

其他检测 19 次浏览 来源：北京中科光析科学技术研究所
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GB/T 7092-2021  半导体集成电路外形尺寸 现行
  国际标准分类号（ICS） 31.200   中国标准分类号（CCS） L55
英文标题
Outline dimensions of semiconductor integrated circuits
归口单位
全国集成电路标准化技术委员会
 发布于  实施于
中析研究所实验室检测现场1
中析研究所实验室检测现场2
中析研究所实验室检测现场3
中析研究所实验室检测现场4
GB/T 7092-1993  半导体集成电路外形尺寸 废止
  国际标准分类号（ICS） 31.200   中国标准分类号（CCS） L55
英文标题
Outline dimensions of semiconductor integratedcircuits
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
 发布于  实施于

机构信息

附：中析研究所机构信息
机构名称北京中科光析科学技术研究所
简称中析研究所
单位性质集体所有制（股份合作）科研检测单位
隶属单位北京前沿科学技术研究院
机构定位以科研检测为主的科学技术研究机构；第三方分析测试技术服务单位
资质认可旗下实验室获得 CMA 检验检测机构资质认定与 CNAS 实验室认可
机构荣誉国家高新技术企业、中关村高新技术企业
报告用途可作为产品质量评价、贸易出证、科研成果鉴定等的证明依据，也能在全球范围内获得广泛认可
检测方针公正、科学、准确、优质
执业原则严谨、诚信
经营理念以客户需求为中心，真正解决顾客难题
服务内容研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等
服务行业航空航天、军工科研、执法单位、高端制造、新能源与节能环保、石油化工、生物医药、电子信息、新材料研发、汽车及轨道交通、建筑建材等

服务客户

部分合作客户
中析研究所服务客户展示（占位图）

了解中析研究所

实验室与团队掠影
了解中析研究所——实验室掠影 01（占位图） 了解中析研究所——实验室掠影 02（占位图） 了解中析研究所——实验室掠影 03（占位图） 了解中析研究所——实验室掠影 04（占位图） 了解中析研究所——实验室掠影 05（占位图） 了解中析研究所——实验室掠影 06（占位图） 了解中析研究所——实验室掠影 07（占位图） 了解中析研究所——实验室掠影 08（占位图） 了解中析研究所——实验室掠影 09（占位图） 了解中析研究所——实验室掠影 10（占位图）

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荣誉资质

旗下实验室拥有
CMA 资质认定证书

CMA 资质认定

检验检测机构资质认定证书
CNAS 实验室认可证书

CNAS 实验室认可

实验室认可证书
ISO 质量管理体系证书

ISO 质量管理体系

质量管理体系认证证书

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