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四探针法:采用线性排列探针接触样品表面,消除接触电阻影响
范德堡法:通过对称电极测量各向异性材料电阻率
扫描电镜原位测试:结合SEM观察纳米线网络结构与导电关联性
太赫兹时域光谱:非接触测量薄膜电导率与载流子浓度
阻抗分析仪法:测定不同频率下复阻抗特性
热波探测法:利用激光加热测量局部导热与导电关联参数
原子力显微镜导电模式:纳米级分辨率表征单根银线电阻
霍尔效应测试:确定载流子类型浓度迁移率
同步辐射X射线散射:分析纳米线排列有序度对电阻影响
变温I-V特性测试:-40℃至150℃范围评估温度稳定性
弯曲疲劳测试:机械臂模拟千次弯曲后电阻变化
加速环境老化:85℃/85%RH条件下评估电阻漂移规律
透射电子显微镜电子全息:测量单根纳米线电势分布
微波介电谱:检测纳米线网络缺陷密度
扫描开尔文探针:表面电势差与导电性关联分析
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