|
国家 标准 |
| GB/T 4937.19-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度 | 现行 |
| 国际标准分类号（ICS） 31.080.01 中国标准分类号（CCS） L40 | 采 |
英文标题
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 19: Die shear strength
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
采标关系
等同 IEC 60749-19:2010
|
国家 标准 |
| GB/T 4937.18-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐照（总剂量） | 现行 |
| 国际标准分类号（ICS） 31.080.01 中国标准分类号（CCS） L40 | 采 |
英文标题
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18: Ionizing radiation (total dose)
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
采标关系
等同 IEC 60749-18:2002
|
国家 标准 |
| GB/T 4937.17-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照 | 现行 |
| 国际标准分类号（ICS） 31.080.01 中国标准分类号（CCS） L40 | 采 |
英文标题
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 17: Neutron irradiation
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
采标关系
等同 IEC 60749-17:2003
|
国家 标准 |
| GB/T 4937.15-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分：通孔安装器件的耐焊接热 | 现行 |
| 国际标准分类号（ICS） 31.080.01 中国标准分类号（CCS） L40 | 采 |
英文标题
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
采标关系
等同 IEC 60749-15:2010
|
国家 标准 |
| GB/T 4937.14-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：引出端强度（引线牢固性） | 现行 |
| 国际标准分类号（ICS） 31.080.01 中国标准分类号（CCS） L40 | 采 |
英文标题
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 14: Robustness of terminations（lead integrity）
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
采标关系
等同 IEC 60749-14:2003
