信息概要
原子力显微镜（AFM）是一种高精度表面分析仪器，通过探针与样品表面的相互作用力实现纳米级分辨率成像，广泛应用于材料科学、半导体、生物医学等领域。检测服务可提供表面形貌、力学性能、电学特性等多维度数据，对产品质量控制、研发优化及失效分析具有重要意义。
检测项目
表面形貌分析,粗糙度测量,弹性模量测定,纳米硬度测试,粘附力检测,摩擦力分析,电导率 mapping,磁力分布成像,热导率评估,表面电势测量,相位信号采集,力曲线分析,纳米摩擦系数测定,层厚度测量,表面缺陷识别,晶格结构解析,表面电荷分布检测,压电响应分析,磁畴结构成像,热膨胀系数测量
检测范围
半导体材料,生物样本,聚合物薄膜,金属材料,陶瓷材料,涂层材料,纳米复合材料,电子器件,光学材料,磁性材料,高分子材料,复合材料,胶体颗粒,二维材料,生物医用材料,光伏材料,催化剂材料,润滑材料,超导材料,表面改性材料
检测方法
接触模式成像：通过探针与样品持续接触获取表面形貌
轻敲模式成像：利用探针振荡与表面间断接触减少损伤
相位成像技术：通过振荡相位差反映材料力学差异
力谱分析：测量探针与样品间的力-距离曲线
纳米压痕测试：定量表征材料硬度及弹性模量
摩擦力显微镜：检测横向力揭示表面摩擦特性
导电AFM：结合电流信号分析局部导电性
磁力显微镜：通过磁性探针探测磁场分布
静电显微镜：测量表面电荷及电势差异
热机械分析：表征温度变化下的材料形变
液态环境成像：在液体环境中动态观测表面变化
拉曼光谱联用：结合化学信息进行成分分析
红外光谱联用：分析表面分子振动特性
X射线光电子能谱联用：获取元素组成及化学态
磁滞回线测量：表征磁性材料的磁化特性
检测仪器
Keysight 8500A AFM,Bruker Dimension FastScan,JEOL JSPM-5400,Oxford Instruments Cypher ES,Asylum Research MFP-3D Origin+,Hitachi AFM5300E,NanoSurf FlexAFM,NT-MDT Nova PX,Park Systems XE-100,SII NanoTechnology SPA400,Zeiss ULTRAPlus SEM,FEI Talos F200X TEM,Rigaku SmartLab XRD,Thermo Fisher K-Alpha XPS,Agilent 4100 EXIL XL MCR
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