信息概要
纳米粒度分析仪是一种用于测定纳米级颗粒尺寸分布及表面特性的精密仪器，广泛应用于材料科学、生物医药、化工等领域。通过高精度检测技术，可快速获取颗粒的平均粒径、分散度、Zeta电位等关键参数，为产品质量控制、研发优化提供数据支持。该检测服务对确保纳米材料性能稳定性、安全性及合规性具有重要意义。
检测项目
平均粒径,粒径分布宽度,Zeta电位,多分散系数,颗粒浓度,表面电荷密度,动态光散射强度,静态光散射信号,颗粒形貌分析,热稳定性测试,分散介质黏度,颗粒密度,介电常数,表面官能团检测,颗粒聚集状态,粒径分级统计,颗粒表面粗糙度,颗粒结晶度,颗粒纯度分析,颗粒表面污染检测
检测范围
纳米粉体材料,纳米涂层材料,纳米复合材料,纳米药物载体,纳米催化剂,纳米陶瓷材料,纳米金属氧化物,纳米半导体材料,纳米磁性材料,纳米纤维材料,纳米薄膜材料,纳米润滑材料,纳米吸附材料,纳米光学材料,纳米生物材料,纳米能源材料,纳米包装材料,纳米抗菌材料,纳米传感器材料,纳米电子器件材料
检测方法
动态光散射法（DLS）：通过测量颗粒布朗运动引起的散射光波动分析粒径分布
静态光散射法（SLS）：基于米氏散射理论测定颗粒绝对分子量和尺寸
透射电子显微镜（TEM）：利用高能电子束成像观察纳米颗粒微观结构
扫描电子显微镜（SEM）：通过二次电子信号获取颗粒表面形貌特征
原子力显微镜（AFM）：以探针扫描方式获取纳米级三维表面信息
X射线衍射（XRD）：分析颗粒晶体结构及晶粒尺寸
比表面积分析（BET）：通过气体吸附法测定颗粒比表面积
热重分析（TGA）：检测颗粒热稳定性及成分分解特性
傅里叶变换红外光谱（FTIR）：识别颗粒表面官能团及化学键
紫外-可见光谱（UV-Vis）：分析纳米颗粒的光学吸收特性
电感耦合等离子体光谱（ICP-OES）：定量检测金属元素含量
激光粒度分析法：基于夫琅禾费衍射原理测量粒径分布
超速离心沉降法：通过沉降速度计算颗粒密度与尺寸
电泳光散射法：测定Zeta电位及表面电荷特性
小角X射线散射（SAXS）：分析纳米级微观结构及孔径分布
检测仪器
纳米粒度分析仪,透射电子显微镜,扫描电子显微镜,原子力显微镜,X射线衍射仪,比表面分析仪,热重分析仪,傅里叶红外光谱仪,紫外-可见分光光度计,电感耦合等离子体光谱仪,激光粒度仪,超速离心机,电泳仪,小角X射线散射仪,动态光散射仪
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