信息概要
激光诱导击穿固体样品原位分析（LIBS）是一种基于激光烧蚀技术的快速、无损检测方法，适用于固体样品的元素成分分析。该技术通过高能激光脉冲作用于样品表面，产生等离子体，并通过光谱分析确定元素组成。LIBS检测在环境监测、工业质量控制、矿产勘探、材料科学等领域具有重要应用价值，能够实现多元素同时检测，且无需复杂样品前处理，显著提升检测效率。
检测项目
元素含量分析, 金属杂质检测, 非金属元素测定, 痕量元素分析, 主量元素分析, 碳含量测定, 硫含量测定, 氧含量测定, 氮含量测定, 氢含量测定, 硅含量测定, 铝含量测定, 铁含量测定, 钙含量测定, 镁含量测定, 钠含量测定, 钾含量测定, 钛含量测定, 锰含量测定, 磷含量测定
检测范围
金属合金, 矿石, 土壤, 陶瓷, 玻璃, 水泥, 煤炭, 塑料, 橡胶, 涂料, 电子元件, 电池材料, 建筑材料, 环境粉尘, 工业废渣, 生物样品, 食品添加剂, 药品原料, 化妆品成分, 考古文物
检测方法
激光诱导击穿光谱法（LIBS）：通过激光烧蚀样品产生等离子体，分析其发射光谱。
能量色散X射线荧光光谱法（EDXRF）：利用X射线激发样品，检测特征X射线。
波长色散X射线荧光光谱法（WDXRF）：通过分光晶体分离特征X射线，提高分辨率。
电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：将样品离子化后测定元素特征光谱。
电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：结合等离子体离子化和质谱分析，检测痕量元素。
原子吸收光谱法（AAS）：通过基态原子吸收特定波长光测定元素浓度。
原子荧光光谱法（AFS）：利用原子荧光信号测定元素含量。
火花直读光谱法（Spark-OES）：通过电火花激发样品，分析发射光谱。
辉光放电质谱法（GD-MS）：利用辉光放电离子化样品进行质谱分析。
二次离子质谱法（SIMS）：通过离子束溅射样品表面，分析二次离子。
X射线光电子能谱法（XPS）：测定样品表面元素化学态和组成。
扫描电子显微镜-能谱法（SEM-EDS）：结合形貌观察和元素分析。
透射电子显微镜-能谱法（TEM-EDS）：用于纳米尺度元素分析。
拉曼光谱法（Raman）：通过分子振动光谱辅助成分分析。
红外光谱法（FTIR）：通过分子吸收光谱分析有机成分。
检测仪器
激光诱导击穿光谱仪, X射线荧光光谱仪, 电感耦合等离子体发射光谱仪, 电感耦合等离子体质谱仪, 原子吸收光谱仪, 原子荧光光谱仪, 火花直读光谱仪, 辉光放电质谱仪, 二次离子质谱仪, X射线光电子能谱仪, 扫描电子显微镜, 透射电子显微镜, 拉曼光谱仪, 红外光谱仪, 紫外可见分光光度计
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