信息概要
纳米颗粒单粒子ICP-MS元素计数是一种先进的检测技术，用于精准分析样品中纳米颗粒的元素组成、数量浓度及粒径分布。该技术结合了单粒子检测与电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）的高灵敏度特性，可实现对单个纳米颗粒的元素信号进行计数和定量。检测纳米颗粒在环境、食品、医药、化妆品等领域具有重要意义，可评估其潜在毒性、生物相容性及合规性，为产品质量控制、安全评估和法规监管提供科学依据。
检测项目
纳米颗粒数量浓度, 纳米颗粒粒径分布, 元素组成分析, 质量浓度, 团聚状态评估, 表面电荷测定, 溶解性分析, 稳定性测试, 元素比例计算, 背景信号校正, 检出限评估, 线性范围验证, 回收率测试, 同位素比值分析, 样品基质效应, 仪器灵敏度校准, 信号漂移监控, 数据重复性验证, 方法准确性评估, 干扰元素排除
检测范围
金属氧化物纳米颗粒, 碳基纳米材料, 量子点, 聚合物纳米颗粒, 脂质体, 胶体金, 银纳米颗粒, 二氧化钛纳米颗粒, 二氧化硅纳米颗粒, 氧化锌纳米颗粒, 氧化铁纳米颗粒, 纳米粘土, 纳米陶瓷, 纳米药物载体, 纳米催化剂, 纳米复合材料, 纳米纤维, 纳米乳液, 纳米气泡, 纳米合金
检测方法
单粒子ICP-MS法：通过时间分辨信号分析单个纳米颗粒的元素信号。
动态光散射法（DLS）：测定纳米颗粒的流体力学直径。
电泳光散射法（ELS）：分析纳米颗粒的表面电荷特性。
透射电子显微镜（TEM）：直接观察纳米颗粒的形貌和粒径。
扫描电子显微镜（SEM）：表征纳米颗粒的表面形貌。
原子力显微镜（AFM）：测量纳米颗粒的三维形貌和高度。
场流分离法（FFF）：根据尺寸分离纳米颗粒并进行定量。
纳米颗粒追踪分析（NTA）：通过光散射追踪单个纳米颗粒的运动。
X射线衍射（XRD）：分析纳米颗粒的晶体结构。
X射线光电子能谱（XPS）：测定纳米颗粒的表面元素组成。
电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）：用于元素总量分析。
紫外-可见分光光度法（UV-Vis）：评估纳米颗粒的光学特性。
拉曼光谱法：研究纳米颗粒的分子振动信息。
离心沉降法：通过离心力分离不同粒径的纳米颗粒。
zeta电位测试：评估纳米颗粒分散体系的稳定性。
检测仪器
单粒子ICP-MS, 动态光散射仪, 电泳光散射仪, 透射电子显微镜, 扫描电子显微镜, 原子力显微镜, 场流分离系统, 纳米颗粒追踪分析仪, X射线衍射仪, X射线光电子能谱仪, 电感耦合等离子体发射光谱仪, 紫外-可见分光光度计, 拉曼光谱仪, 离心机, zeta电位分析仪
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