信息概要
金纳米颗粒测定是通过对纳米尺度金颗粒的物理、化学及生物学特性进行系统分析，确保其符合应用要求的关键检测服务。检测涵盖尺寸、形貌、稳定性、表面修饰等核心参数，对质量控制、安全评估及研发优化具有重要意义。第三方检测机构通过专业设备与方法，提供高精度、可重复的检测数据，支撑材料科学、生物医药、电子器件等领域的合规性与创新性需求。
检测项目
粒径分布，表面电荷（Zeta电位），形貌分析，元素组成，浓度测定，分散稳定性，紫外-可见吸收光谱，表面等离子共振特性，比表面积，晶体结构（XRD），表面官能团分析，包覆层厚度，团聚状态，纯度检测，金属杂质含量，生物相容性，催化活性，光热转换效率，荧光标记效率，毒性评估
检测范围
球形金纳米颗粒，棒状金纳米颗粒，星形金纳米颗粒，核壳结构金纳米颗粒，空心金纳米颗粒，金纳米簇，金纳米线，金纳米片，金纳米立方体，树枝状金纳米颗粒，金纳米花，多孔金纳米颗粒，荧光标记金纳米颗粒，PEG修饰金纳米颗粒，抗体偶联金纳米颗粒，二氧化硅包覆金纳米颗粒，聚合物包覆金纳米颗粒，磁性金纳米复合材料，金纳米颗粒-量子点复合物，生物分子功能化金纳米颗粒
检测方法
透射电子显微镜（TEM）：直接观察颗粒形貌与尺寸。 动态光散射（DLS）：测定溶液中颗粒的流体力学直径及分布。 扫描电子显微镜（SEM）：分析表面形貌与微观结构。 紫外-可见分光光度法（UV-Vis）：检测等离子共振吸收峰特性。 X射线衍射（XRD）：确定晶体结构与晶格参数。 电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）：定量元素含量及杂质分析。 Zeta电位仪：评估颗粒表面电荷与分散稳定性。 原子力显微镜（AFM）：高分辨率表面形貌与力学性质分析。 傅里叶变换红外光谱（FTIR）：表征表面官能团与修饰分子。 X射线光电子能谱（XPS）：分析表面元素化学态与组成。 热重分析（TGA）：测定包覆层或修饰物的热稳定性与含量。 拉曼光谱：研究表面增强拉曼散射效应及分子吸附。 流式细胞术：评估生物标记效率与细胞相互作用。 高效液相色谱（HPLC）：分离与定量表面修饰分子。 比表面积分析仪（BET）：测量纳米颗粒比表面积与孔隙率。
检测仪器
透射电子显微镜，扫描电子显微镜，动态光散射仪，紫外-可见分光光度计，原子力显微镜，X射线衍射仪，电感耦合等离子体质谱仪，Zeta电位分析仪，傅里叶变换红外光谱仪，X射线光电子能谱仪，热重分析仪，拉曼光谱仪，流式细胞仪，高效液相色谱仪，比表面积分析仪
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